- 新思科技（Synopsys, Inc.，）近日推出了一项创新的流结构技术（Streaming
fabric
technology），能够将芯片数据访问和测试的时间最高缩短80%，并极大程度地降低极限功耗，从而支持日益复杂的大型设计中芯片健康监测的实时分析。作为新思科技芯片生命周期管理流程的一部分，该创新的流结构是一种独特的片上网络，由新思科技TestMAX® DFT可测性设计工具生成，可以快速地将芯片数据传输到多个设计块和多裸晶芯片系统中，显著缩短了测试和分析芯片整体健康状况以发现异常和故障的时间
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新思科技 芯片生命周期管理 数据传输 测试时间
- 汽车电力系统的不当调节，会导致经常发生电压骤降和过击的现象。在正常的情况下，电压的范围会介于11 到15 伏特之间，而在暂态开始和执行的情况下，则会介于8 到24 伏特之间。因此，在测试引擎控制单元(ECU)时必须执
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ECU 测试时间 测试 效能
- 在制造过程中对W-CDMA设备进行有效、精确和可重复的测试是一项非常复杂工作，其测试问题包括如何利用系统内部固有的灵活性，以及如何判定哪一个要素应当加以应用来产生更为有效地测试环境。本文着重利用回环实体(loo
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W-CDMA 设备 测试时间
- 定位以及相关服务已经迅速在手持设备中找到了相当丰富的应用方式和前景，用户也越来越多地依赖定位服务。如何精确找到你的位置，其技术核心与全球定位系统(GPS)息息相关。GPS技术耗资数十亿美元，由至少24颗按照特
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GPS 测试 测试时间 方案
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GPS测试 测试时间 成本 完整性
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