首页  资讯  商机   下载  拆解   高校  招聘   杂志  会展  EETV  百科   问答  电路图  工程师手册   Datasheet  100例   活动中心  E周刊阅读   样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> 存储测试

存储测试 文章 进入存储测试技术社区

基于FPGA软核的参数可变的压力测试系统设计

  • 在爆炸场压力测试中,冲击波超压峰值随着弹药的当量和到爆心距离的变化十分显著。传统测试系统的测试参数难以更改,灵活性差,往往需要重新设计电路以满足不同测试要求。为了提高测试系统的灵活性及电路复用性,设计了基于可配置FPGA软核的测试系统。通过调用并修改可移植软核,以实现系统的快速设计,通过灵活设置测试参数完成不同测试任务。对系统准确性进行了验证,应用到静爆试验中,有效获得了压力数据。
  • 关键字: FPGA  软核  冲击波  存储测试  

存储测试系统的USB接口设计

  • 摘要:针对存储测试系统的高速数据传输需求,设计了以单片机和FT245R为核心器件的USB接口电路,替代了传统的并行/串行接口。设计的USB接口支持USB 2.0协议,具有体积小、通用性好、操作简单、使用方便等特点,数据
  • 关键字: USB  存储测试  系统  接口设计    

基于FPGA的存储测试系统

  • 针对某些特殊的测试试验要求测试系统高性能、微体积、低功耗,在存储测试理论基础上,进行了动态存储测试系...
  • 关键字: FPGA  存储测试  采样频率  

基于FPGA的存储测试系统的设计

  • 摘要:针对某些特殊的测试试验要求测试系统高性能、微体积、低功耗,在存储测试理论基础上,进行了动态存储测试系统的FPGA设计。介绍了该系统的组成,对控制模块进行了详细设计。针对测试环境的多样性设计了采样策略
  • 关键字: FPGA  存储测试  系统    

基于CPLD的多次重触发存储测试系统设计

  • 摘要:提出一种基于CPLD的多次重触发存储测试系统设计方案,详细介绍系统硬件设计以及CPLD内部控制原理,并对CPLD控制电路仿真。该系统体积小、功耗低,能够实时记录多次重触发信号,每次信号记录均有负延迟,读取出
  • 关键字: CPLD  触发  存储测试  系统设计    
共5条 1/1 1

存储测试介绍

您好,目前还没有人创建词条存储测试!
欢迎您创建该词条,阐述对存储测试的理解,并与今后在此搜索存储测试的朋友们分享。    创建词条

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052    京公网安备11010802012473