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台积电与CEA-Leti合作推动无光罩微影技术

作者:时间:2009-07-08来源:DigiTimes收藏

  为积极朝向制程技术前进,宣布与法国半导体研究机构CEA-Leti签订合作协议,将参与由CEA-Leti主持的IMAGINE产业研究计画,就半导体制造中的无光罩进行合作,这项计画为期3年。日前曾传出,由于经济前景不明,部分设备商延后制程技术研发,此举则希望更积极主动推动无光罩

本文引用地址:http://www.amcfsurvey.com/article/96019.htm

  这次参与的CEA-Leti IMAGINE研究计画为期3年,所有参与这项计画的公司都可取得无光罩微影架构供IC制造使用,也可以藉由设备商Mapper所提供的技术提高生产效率。这项研究计画包涵了无光罩技术的设备评估、制像与制程整合、资料处理、原型制作与成本分析等多项技术。

  台积电研发副总孙元成表示,推动具成本效益的,而发展无光罩微影技术即是潜在的解决方案之一。之前台积电已宣布与Mapper一同开发多重电子束微影技术,供22纳米及更先进的制程使用,这次藉由参与CEA-Leti的IMAGINE研究计画,希望与半导体产业结盟,加速无光罩微影技术在IC制造领域的发展与推广。

  CEA-Leti总执行长Laurent Malier也指出,微影技术是半导体产业的一项主要挑战,未来采用无光罩的解决方案可提供弹性与得到机台的成本优势,同时与设备商Mapper相结合,也看到了提升生产效率的可能性。这次台积电的加入对IMAGINE研究计划相当重要,从台积电的角度,不仅可强化制造可行性的评估,同时重量级业者参加,也将带领无光罩微影技术迈向发展进程下一步,成为可运用在22纳米制程的解决方案。

  台积电日前表示,目前Fab12 P4已经导入机器设备,接下来将做为台积电的研发总部,未来将投入28、22纳米制程技术研发与先期量产工作。台积电于45纳米导入浸润式微显影(immersion lithography)也是与设备商ASML共同开发的成果,而在22纳米制程技术以下,台积电除了与ASML共同合作深紫外光(EUV)解决方案,也寻求无光罩微显影的解决方案。



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