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电磁兼容外场测试中的干扰抵消技术

—— Eliminating Interference in EMC Measurement
作者:葛寿兵 中国电子科技集团公司第23研究所 龚成 中国电子科技集团公司第50研究所时间:2009-04-14来源:电子产品世界收藏

  引言

本文引用地址:http://www.amcfsurvey.com/article/93435.htm

  由于大型电子设备在进行(EMC)性考核时,很难进入屏蔽室进行而只能在室外开阔场地进行,从而难以控制测试时的环境背景噪声电平,使测试结果出现很大误差。如何区分背景噪声信号,鉴别出受试设备发出的被测信号一直是EMC测试中的一个难题。在各种不同的背景信号中,同频干扰与被测信号无法通过频谱进行分离,本文的目的就是想用空间分离技术,通过适当的测试方法,对于任意方向的同频干扰信号进行有效的拟制,从而得到有效的测试结果。

  消除同频干扰的基本方法

  合成场分析

  在图1所示的测试环境中,设待测信号与干扰信号均为线极化(在工程实际中,这样的假设是合理的),待测信号电场强度为:

  干扰信号电场强度

  待测电场为向线极化,沿向传播,式(1)中Epm是被测信号源处的电场强度值;rp是被测信号到测试点的距离;wp是被测信号的初始相位;wp是被测信号角频率。


图1 性测试环境示意图


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