基于ARM的2M测试系统

作者：桑占良谈世哲时间：2008-05-23来源：微计算机信息收藏

　　根据测试系统功能的要求, 在程序中定义了2个数据结构,一个是用来存放程序中需要用到的各种测试设置值的数据结构SetUp_struct；另一个是用于存放测试结果的数据结构Data_struct。这两个数据结构是连接各个功能函数的桥梁，通过判断SetUp_struct中各个变量的值可以使程序做出相应的操作，并改变相应Data_struct值，从而实现在不同的测试环境下对不同指标的测试。

本文引用地址：http://www.amcfsurvey.com/article/82975.htm

　　3.3 2M测试系统测试指标的测量与计算

　　2M测试系统设计所能达到的测试指标如下：

　　(1)、在线和中断业务测试，可选接口阻抗：75Ω、120Ω、高阻（≥2KΩ）。

　　(2)、统计分析功能： G.826测试分析误块秒、严重误块秒、背景误块、不可用秒、误块秒率、严重误块秒率、背景误块率；G.821测试分析误码秒、严重误码秒、不可用秒；M.2100测试分析误码秒、严重误码秒、不可用秒。

　　(3)、差错（误码、误块）监测比特误码、编码误码、帧字差错、CRC差错。

　　(4)、告警监测。

　　(5)、同时显示帧开销及30个话路数字型线路信号（a.b.c.d）的状态。

　　(6)、话音监听，各话音时隙可选。

　　(7)、测试结果掉电可记忆，可上传微机。

　　上述各项指标的测量由检测模块和语音监听模块实现, 指标的(3)、(4)项可通过对ds21354和ds21372的相关寄存器的设置和对线路状态寄存器的读取并对数据简单处理可实现。指标的(5)、(6)项可通过对时隙交换电路相关寄存器的设置和读取对数据简单处理实现。第(2)项的指标参数是统计指标,需要在读取DS21372寄存器的原始测试数据之后，经过计算得到。统计指标以秒为单位,程序设置了周期为1s的中断定时读取ds21372的寄存器值，调用计算函数计算统计指标。图3是在G.821分析模式下的统计指标算法流程图，其余分析模式下与此相似。