用在各种ATE中的集成边界扫描(06-100)
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一个独立应用的边界扫描系统可以用边界扫描I/O资源来扩展UUT接口电路的测试覆盖范围。在一个内电路测试仪上集成边界扫描工具，利用夹具的针来连接网来改善测试性和诊断，这需要开发另外的测试程序。希望在单独应用系统和集成方案中运行同样的测试程序来降低测试开发时间和维护成本。
混合边界扫描
若测试程序独立于测试系统硬件，特别是当考虑采用I/O资源来扩展边界扫描测试覆盖范围时，可以大大地改善边界扫描测试程序和系统内编程程序的便携性。基于此原因，开发了混合扫描(HYSCANTM)。混合扫描允许在各种ATE系统中执行同样的边界扫描测试图形，而不需要修改。
混合边界扫描的原理是移位向量和并行I/O向量的分离。测试程序包括UUT边界扫描链的测试图形和测试仪的I/O资源。然而，I/O资源的测试图形与实际的测试仪硬件无关。
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