用在各种ATE中的集成边界扫描(06-100)
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靠外部测试通道补充UUT板上测试资源，可以扩展测试覆盖范围到外设连接的UUT接口电路。特别是当用外部接入到网上测试点而通过边界扫描不可接入时，可以改善诊断输出。
本文引用地址：http://www.amcfsurvey.com/article/81439.htm尽管用边界扫描I/O测试器硬件可以改善测试覆盖范围和诊断性能，但此方法会引起新的问题。在开发边界扫描测试仅仅考虑UUT的测试资源，那么所有测试覆盖范围统计都是仅基于网数和UUT上的测试点数。然而增加测试仪资源到边界扫描装置，其测试资源本身包含自动调节测试覆盖范围分析器。
对于测试生成，边界扫描I/O测试仪资源与UUT网表融合。而所产生的测试程序是基于该整合网表。这导致测试覆盖分析期间所评估的网和引脚数的增加。测试覆盖分析结果不再表示UUT，而是组合的UUT和测试仪I/O配置。
表1给出这种组合网数对边界扫描互连测试实例测试覆盖范围统计的影响。当希望分析边界扫描对专门UUT和增加I/O资源的适应性时，这种偏移的测试覆盖统计使人费解。
为了测试程序产生使边界扫描I/O资源与UUT网表融合，所以，所开发的测试图形只可以在这种测试仪配置上执行。随着边界I/O资源数、命令或类型的变化，测试图形必须尽快地做相应修正。
增加边界扫描I/O资源到测试装置引起的另一个问题是增加扫描链长度。需要另外的TCK时钟来移位通过边界扫描I/O模块的测试图形，这会导致较长的测试执行时间，并降低有效的测试吞吐量。然而，这样的I/O模块可以连接到一个分离的边界扫描链，这会降低或者消除对测试执行时间的影响。
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