Viscom推出3维X-Ray AOI/AXI同步检测设备
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这正是X7056的实力:高性能的3维自动X-ray检测系统(AXI)搭配同步上、下双面的光学检测,以适应当今电子制造业高产率的要求。
X7056的X-ray核心科技—高性能微距X射线显像管,由Viscom研发并生产—确保每像素拥有15 μm的解析度。全新的3维X-ray迭代建模,同时也保证高清晰的成像质量。从而,复杂、重叠交替的双面PCB能够被清晰的解析,易于分析。综合了6百万像素传感器技术,在最大产量的检测中,X7056提供Viscom系统中最高最好的检测深度和效果。特别引人注目的,X7056能够装备上AOI的镜头,同时检测PCB的上、下两面。
综合了双面光学检测和X-ray检测,这套高性能的联合系统设立了质量保证的新标准。同步检测、 双轨道传输,实现了高速检测和低时间滞留。X7056采用全模块化设计,能够作为AOI/AXI同步检测设备,亦可用作单一AXI检测。多样的检测概念,可灵活的满足客户不同的检测需求。
另外,该设备还包含了Viscom EasyPro快速编程软件、全面兼容Viscom检测算法等特性。X7056在软、硬件上全面兼容Visom AOI系统。
添加高性能的VPC软件模块可以实现监控程序、应用多种滤镜功能优化控制。
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