英特尔推出增强版张力硅技术 性能提高30%
英特尔公司负责处理器架构和集成事务的主管马克表示,英特尔公司将在其0.065微米工艺中集成许多变化。它已经在用0.065微米工艺生产试验性的SRAM芯片。
本文引用地址:http://www.amcfsurvey.com/article/3171.htm根据芯片设计者的目标,用0.065微米工艺生产的芯片能够提高芯片的性能或降低能耗,或者能够同时实现这两个目标,但英特尔公司把重点放在了节能上。
与不使用张力硅技术的芯片相比,增强版张力硅能够使芯片的性能提高30%,并能将泄露电流降低4倍。马克说,通过使用张力硅技术,英特尔公司至少保持了一代的技术领先优势。采用增强版张力硅技术,能够增强驱动电流和减少电流泄露。张力硅技术也已经开始在IBM、AMD等公司的芯片中使用。
摩尔定律的核心是减小晶体管的体积和晶体管组件的数量。通常更小的晶体管速度更快,将能够生产出更小、更廉价、更好和更节能的芯片。在试验的SRAM芯片中,1000万个晶体管能够集成在原子笔尖大小的面积上。芯片产业按照摩尔定律发展了30多年,芯片的集成度已经大大提高了,这使芯片的设计和生产的难度进一步提高。
氧化物栅极是0.065微米工艺芯片中的另一个改进,在0.065微米工艺芯片中栅极的长度更短,这将能够提高晶体管的性能。通过保持厚度不变,电容将能够降低20%,从而减少了可能发生的电流泄露。
0.065微米工艺芯片中还将包含能够切断其它晶体管电源的睡眠晶体管。尽管马克对这些晶体管的节能效果无法准确地进行量化,但它可能有效地节省相当多的能耗和减少泄露电流。他说,这个技术具有显而易见的降低电流泄露的作用。
在英特尔公司的0.065微米工艺芯片中不包含绝缘硅(SOI)技术。一种名为“超薄SOI”的技术英特尔公司曾经做过试验,但它认为,“超薄SOI”的节能效果将由使用三栅极晶体管来完成。
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