资料撷取/分析瓶颈突破 　工业物联网打通任督二脉

　　工业物联网(Industrial Internet of Things, IIoT)可望加速成形。瞄准工业4.0掀起的IIoT发展热潮，国家仪器(NI)于年度盛会NIWeek上大举发布多款资料撷取与分析软硬体解决方案， 将有助克服现今工业系统无法有效处理和利用巨量类比资料(Big Analog Data)的瓶颈，进而实现具备智慧化资料量测与管理功能的IIoT系统。

　　国家仪器总裁兼执行长暨共同创办人James Truchard指出，标准化的平台式解决方案是克服巨量类比资料挑战丶发展工业物联网不可或缺的关键。

　　国 家仪器总裁兼执行长暨共同创办人James Truchard表示，巨量类比资料是IIoT发展的重要挑战，IIoT系统唯有能从巨量类比资料中挖掘出有用的资讯方能带来更大的附加价值;因此该公司 分别针对资料撷取、控制及分析三个层面提出相对应的完整解决方案，协助物联网前端(Edge)智慧系统开发商解决棘手的庞大类比资料处理问题，让IIoT 发展更加蓬勃。

　　国家仪器全球业务暨行销副总裁Eric Starkloff进一步指出，IIoT所须处理的类比资料将与日俱增，而如何在这些巨量资料中提取出有用的资料并妥善进行深度分析便至为关键;换言之， 资料撷取丶量测及分析的过程皆须更加智慧化，才能取得有利用价值的数据，并透过智慧化的管理发挥其最大效益。

　　也因此，针对资料撷取部分， 国家仪器在本届NIWeek大会上，推出全新的CompactDAQ量测系统，其结合英特尔(Intel)四核心Atom处理器和USB 3.0技术，透过最新LabVIEW 2015软体即可设计程式，让工程师可客制化自己的资料撷取系统，并在撷取过程中加入智慧和处理功能，仅取得有用且重要的资料。

　　另外，国 家仪器还发布了三款新的控制器，包括高效能Compact RIO控制器，适合对耐用性要求较高的工业应用;FlexRIO控制器，适合高效能嵌入式应用;以及Single-board RIO控制器，适合须要提高嵌入式应用弹性的设计。这些控制器搭载了英特尔(Intel)和赛灵思(Xilinx)最新的嵌入式方案，可提供更高的处理效 能及弹性，助力系统设计师和机台建置商克服资料监控难题。

　　Starkloff强调，这一系列新的RIO硬体控制器皆是基于该公司所提出的 LabVIEW RIO架构所开发而成，内建现场可编程闸阵列(FPGA)及中央处理器(CPU)，可帮助工程师快速设计嵌入式系统丶制作原型并加以部署，以满足工业物联 网进阶的资料监控应用需求。

　　除提升资料撷取、监控的智慧效能外，国家仪器也推出DIAdem 2015和DataFinder伺服器版2015等软体方案，强化资料分析能力;前者为64位元版本，使用者可在DIAdem环境中载入和分析更多资料; 后者提供了多步骤查询功能，可在几秒内找到使用者想分析的资料。