基于SOPC的通用型JTAG调试器的设计

　　SOPC技术的发展，给仿真器指出了新的发展方向。所谓SOPC技术，就是指用可编程技术将整个系统放在一块硅片上。在传统设计中电路级相互独立的各个系统被集成到一块FPGA芯片中。

　　SOPC的可重用性是一种先进的设计思想。为了降低用户的负担，避免重复劳动，将一些在数字电路中常用但比较复杂的功能模块，比如SDRAM控制器等，设计成可修改参数的模块，用户在设计系统时可以直接调用这些模块。这些特定的功能模块被称为IPcore(知识产权核)。由于IPcore通常是很成熟的，因此降低了开发风险。

　　本文利用SOPC技术的特点，设计一种通用型调试器。根据待调试目标板的CPU型号，将相应的调试IPcore和其他通用IPcore一起编译生成一个嵌入式调试系统，下载到FPGA上，实现一个通用型调试器。在使用同一个硬件系统的情况下，可以选择不同的调试IPcore来调试不同的CPU，而不同的IPcore可以方便的互相替换。该方法在设计灵活性、开发成本、开发周期、工作性能等方面都具有优越性。具体的实现采用了Cyclone开发板和Altera开发套件。

　　1 JTAG调试原理

　　目前在线仿真调试器中使用最多的调试方法都是基于JTAG标准。1986年，联合测试行动组发表了最早的边界扫描测试规范(Boundary Scan Testing)，经不断改进，1990年被批准为IEEE Std 1149.1a标准，简称JTAG标准。现在大多数复杂的IC芯片都带有JTAG调试接口。本文所讨论的调试方法也基于JTAG标准。下面首先简单介绍一下JTAG调试原理。

　　JTAG调试原理的基础是边界扫描测试。它通过在芯片的每个I/0脚附加一个边界扫描单元(BoundaryScan Cell，BSC)以及一些附加的测试控制逻辑来实现。每个BSC有两个数据通道：一个是测试数据通道——测试数据输入TDI(Test Data Input)、测试数据输出TD0(Test Data 0utput);另一个是正常数据通道——正常数据输入NDI(Normal Data Input)、正常数据输出ND0(Normal Data Output)。在正常工作状态，输入和输出数据可以自由通过每个BSC，正常工作数据从NDI进，从NDO出。在测试状态，可以选择数据流动的通道：对于输入引脚，可以选择从NDI或从TDI输入数据;对于输出引脚，可以选择从BSC输出数据至NDO或至TDO。芯片输入输出引脚上的边界扫描寄存器单元可以相互连接起来，在芯片周围形成一个扫描链。利用边界扫描链就可以控制芯片的输入，观察芯片的输出。一般来说，芯片都提供了若干条扫描链来完成测试功能。例如ARM7TDMI核提供了3条扫描链。

　　JTAG控制器主要由3部分组成：测试端口控制器(Test Access Port，TAP)、指令寄存器和数据寄存器。其中，TAP控制器是JTAG的核心控制器，需要以下5个控制信号：TCK(边界扫描时钟)、TMS(JTAG测试模式选择)、TDI(串行边界扫描输入数据)、TDO(串行边界扫描输出数据)和TRST(JTAG测试逻辑复位)。正是通过TAP控制器状态的不断变化，JTAG控制器得以控制CPU的运行。TAP控制器的状态机如图1所示。

　　2 系统设计与实现

　　2.1 硬件设计与实现

　　本文采用A1tera的FPGA器件实现了图2所示的硬件结构。

　　上图列出了所需要的各类IPcore，其中大部分在Altera的开发包中可以找到，主要包括：

　　Nios II/f CPU，50 MHz，Altera提供的免费软核CPU。

　　Avalon总线，用于数据通信。

　　Flash控制器，用于控制和操作Flash芯片。Flash芯片中静态存放操作系统、1wIP协议栈及其他调试代码。本系统中使用的Flash芯片为Am29LVl60D，容量为2MB。

　　SDRAM控制器，用于控制和操作SDRAM芯片。SDRAM芯片用于动态执行调试程序。本系统中使用的SDRAM芯片为三星公司的K4S640432，容量为8 MB。

　　Ethernet控制器，用于控制和操作网卡芯片。仿真器使用这个以太网口与PC部分的集成开发环境通信。本系统中使用的网卡芯片为LAN91C111。