基于ADLINK的IC半自动测试系统

　　系统工作流程

　　系统工作流程描述如图3。

　　操作人员启动系统后，系统开始自检，发现故障，则系统复位并自动断电。首先是各功能模块的初始化，接下来是由上位机PXI-3800往各个下位机发送动作指令，接受指令后CPCI-7434模块输出对应的电平信号控制继电器完成测试电路中信号传输通道的切换，CPCI-6208模块输出对应的模拟信号经由功放模块放大后作为测试电路需要的电压源及电流源。与此同时SMX-2042执行相应的测试动作，如果需要，高低温系统会提供相应的环境温度。经过一定延时，系统开始采集数据，其中包括SMX-2042的测试结果及温度传感器反馈的芯片真实环境温度。采集的数据实时地显示到输出终端并保存到非易失性存储器中。此时系统会自动检查是否还有待执行的指令，如有则转入下一轮循环，否则系

统复位、结束。

　　系统优缺点分析

　　优点：
　　1．成本低。通常搭建一套标准配置的测试系统仅需要约30万人民币，成本优势非常明显。
　　2．测试精度高。依靠辅助电路，它的测试精度可以达到：电压mV级，电流nA级，电阻mΩ级，满足当前大多数产品的测试精度要求。
　　3．易于开发、维护和升级。由于陵华计算机已经提供了功能强大的数据采集、处理模块，因此测试系统的硬件设计极大地简化了。而且该系统采用Labview图形化开发环境，设计者无须编程经验也可编写出高效的测试程序。该系统采用PXI工业总线，用户可方便升级。

　　缺点：
　　1． 测试速度低，不适用于大批量测试。由于系统没有配置机械化上料机构，而是采用操作工人手动上料的方式，对操作工人的防静电保护及操作技能要求较高，测试时间相对较长。 Labview软件编译环境也是影响测试时间的原因之一，相比Visual C++编写的程序，执行时间要长很多。
　　2． 抗干扰能力差。由于系统没有达到高度集成，有一部分电路缺少屏蔽保护，干扰信号尤其是噪声极可能成为系统误差的主要来源，因此采取有效的抗干扰措施将非常重要。

　　本文应用凌华工业计算机搭建IC半自动测试平台，可对当前大部分半导体产品进行小批量测试，相比传统测试系统，它大大地降低了成本，保证了产品测试精度，此外，还具有维护简单，容易升级的优点，为IC测试开发人员提供了可靠的设计依据。

参考文献
[1]《2005~2006中国集成电路产业研究报告》，水清木华研究中心，2006.8
[2]庄嘉明，《PXI——用于制造测试的工业标准平台》，致茂电子，2003.12
[3]PXISelectionGuid, ADLINK