光学反射式分布测量技术浅析
3.3 干涉探测技术[5]
干涉探测在高分辨率、高探测灵敏度的光纤链路、光波导及其它光器件的结构检查中有优异的性能表现。
（8） λ0是光源中心波长，δλ是光源的谱宽。
四、总结
以上介绍了光反射探测的基本原理及实现方法，着重分析了几种改进的探测技术，讨论了反射探测应用于小尺度测量时最关注的探测分辨率问题。相关探测利用互补码调制探测信号，达到抑制噪声的目的，需要额外的编码发生器及信号处理器，其分辨率由光源脉冲宽度及探测动态范围决定。光频域探测用频率变化探测链路光学特征，有较高的分辨率及动态范围，但对频率的线性调制有较高要求，频率线性控制难度大，对测量信号要进行Fourier变换计算，其分辨率由频率变化间隔决定，测量精度可达到毫米精度。干涉探测利用光的干涉特性进行测量，有高分辨率、高动态范围的特点，结构较为简单，需要相干时间短的稳定光源，理论分辨率由光源相干长度决定，实际还要受移动控制机构精度影响，测量精度可达到微米精度。几种探测技术的分辨率决定因素不同，在实现方法上各有特点。
五．参考文献
1.P. Healey, "Instrumentation Principles for Optical Time Domain Reflectometry", J. Phys.E: scientific Instrum. , vol.19, pp.334-341 ,1986
2.M. Nazarathy, S. A. Newton, R. P. Giffard, D. S. Moberly, F. Sischka, W. R. Trutna and S. Foster, "Real-Time Long Range Complementary Correlation Optical Time Domain Reflectometer", J. Lightwave Tech., vol. 7, no. 1, pp. 23 - 38, 1989
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4.U. Glombitza and E. Brinkmeyer, "Coherent Frequency-Domain Reflectometry for Characterization of Single-Mode Integrated Optical waveguides", J. Lightwave Technol., vol. 11, no. 8, pp. 1377 - 1384, 1993
5.R. Rojko, J. Jasenek, "Low-Coherence Optical Time-Domain Reflectometry and Homogenity of Materials", J. of Electrical Engineering (E?), vol. 48, no. 9, pp. 129 - 132, 1994
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