通用微处理器等效老化试验方法分析与研究 作者：时间：2008-11-26来源：网络收藏 结论 通过对通用微处理器等效老化试验方法的研究，可以得出如下结论：1）等效老化试验是评估和比较不同工艺、不同设计的功能全兼容集成电路质量和可靠性水平的重要手段；2）“归一化老化电流”α是能够表征等效老化应力强度的特征参数；3）通用CPU 可以采用本文给出的等效老化试验方案实现质量和可靠性水平的有效评估和比较。 上一页 1 2 3 4 下一页
评论