基于现场总线的X射线能谱分析仪软件设计

X射线荧光分析仪近年来广泛应用于建材、冶金、采矿等行业，可对物料或产品成份组成和含量进行快速、无损的物理分析，其分析结果不仅依赖于该仪器的各项技术指标，还取决于所使用的分析方法。因此，自从X射线荧光分析仪研制成功以后，无论在国际还是在国内，分析方法和软件开发的研究成为改善仪器分析精度、扩大使用范围的主要研究内容。近年来，随着现场总线技术的不断发展，传统化学分析方法因其无法实现数字化自动输入逐渐被现代电子测量分析仪器所取代，本文结合实践经验对开发应用于自动化生产总线结构中的X射线荧光分析仪物质成分定量分析的能谱分析方法和软件开发做一探讨。
1 能谱分析
1.1 基本测量原理
高能光子(X射线)或高速带电粒子轰击样品中的原子时，会将自己的一部分能量传递给原子，从而激发原子中的某些能级上的电子，原子中的空穴由外层轨道上的电子填满，多余的能量以X射线的形式释放出来。各种元素所发出的X射线光子具有不同的特征能量，称为该元素的X特征射线。因此，利用连续X射线轰击样品，使之产生荧光光谱，再通过由单板机构成的多道脉冲幅度分析器和计算机对特征谱线进行检测、鉴别、分析，则可对样品中的元素组成进行定性或定量分析。并将分析结果经总线直接传送至中控室实现真正的闭环控制。其结构框图如图1所示：

1.2 谱数据处理
由图1可知，由射线探测器得到的能谱脉冲信号经放大器和多道分析器，进入微机系统。计算机通过软件对X射线能谱的常规数据进行处理，从而对样品的含量做定性和定量分析。谱数据处理包括：原始谱数据的光滑；自动寻峰及确定峰位的能量：待测元素的定性分析：峰边界道的确定；峰面积计算等内容。
(1)原始谱数据的光滑预处理
由于测量过程的统计性原理误差，使得X射线谱形式带有统计涨落的特点。所获取的X射线谱统计误差更为明显。在寻峰时，计数的统计涨落可能被误认为是一个谱峰，因此需要对谱先进行光滑预处理。本系统选用二阶多项式五点光滑法。具体计算公式为：

式中，n_i-2、n_i-1、n_i+1、n_i+2为待光滑的第i道光滑前及光滑后的计数。在进行谱线光滑时，可以重复数次，以达到需要的光滑效果。?
(2)自动寻峰?
从获取的X射线谱中找到峰位并换算成相应的能量是X射线能谱定性分析的基础。本软件系统选用比较法作为计算机自动寻峰的方法。具体方法如下
如果第i道计数满足以下不等式：

则认为峰位在i-1，i，i+l道中，再从这三道中选出计数最大的道址即为峰位。k为找峰阈值，一般取值为1—1.5。
(3)系统的能量刻度?
能量刻度是确定本测量系统的道址m与Ｘ射线能量E之关系。即：

经过自动寻峰得到特征X射线的峰位m，代入(3)式即可求解出该峰位对应的X射线能量。经与元素特征X射线能量库的逐一检索、查证，即可确定待测元素的种类。
(4)峰边界道的确定?
准确计算特征峰的净峰面积是定量分析的依据。为此，必须根据实际情况确定特征峰的边界道址。由于采用的半导体探测器具有很好的能量分辨率，对于较高含量的元素，一般都能得到清晰的谱峰。因此，我们采用谱峰的全宽度做为确定本底计数的依据。
(5)净峰面积计算
本系统选用沃森法计算净峰面积(图2)。在峰边界L、H内取点F作为计算本底的宽度(F又称为面积因子)，β₁，β₂为左、

2 软件开发
2.1 软件系统构成
软件系统是进行能谱分析实现物质元素定性、定量分析的基础，也是“荧光分析仪”的重要组成部分，本系统以Windows98为工作平台，Microsoft Visual C++6.0为开发工具。
(1)软件系统框图
计算机通过接口与硬件多道脉冲幅度分析器(MCA)相连，转换结果直接