一种距离光线传感器失效分析及整改
0 引言
科技发展的时代,我们对于手机功能及用户体验方面要求更高,而传感器就是手机获取更多功能和更好体验非常重要的一部分。手机集成的传感器包括[1]:距离传感器、光线传感器、加速度传感器、指纹传感器、压力传感器、重力传感器、电子罗盘传感器等。距离传感器工作原理[2] 是通过红外传感接收由IR LED 发出穿过盖板并从物体反射回来的光,经过模/ 数转换将数据提供到传感器芯片,控制亮灭屏;而光线传感器是常规两路光电二极管作为接收,光转为电信号,进行模/ 数转换,通过对环境光数据和红外数据相减得到可见光的数据,以此数据作为背光调节的依据。由于在使用过程中某厂家的距离、光线传感器出现了失效,为了从根本上分析解决传感器失效问题,本文将从传感器失效机理、工艺设计、器件结构等方面进行分析,制定整改措施并通过实验验证其可靠性。
1 背景
在某型号手机生产测试过程中,功能测试岗位连续出现多单距离、光线传感器失败故障机下线,且该故障存在失效不稳定现象,质量不可控,生产测试不可控,极易流至售后,存在售后投诉隐患,严重影响手机产品质量和用户实际体验,问题急需解决。
2 传感器失效原因分析
手机生产过程中出现10% 的距离、光感测试失效,对此我们对故障树进行原因分析[3]。共找到7 个问题原因( 图1),其中根据异常主板SN 号追溯SPI 测试数据无异常,均为一次性测试通过,说明锡膏印刷过程无异常,失效原因为传感器本体异常,此项排除;车间按照无尘标准进行生产,温湿度按标准严格管控,生产环境问题可以排除;员工均持证上岗,按标准进行作业,经验丰富,且定期进行考评,此项排除;对生产设备进行检查,发现厂家自动送料轨道存在偏移,此项为异常原因之一;剩余的IC 功能、焊盘上锡异常、沉铜不良需要进一步分析验证。
2.1 传感器失效分析
将故障品物料与正常品物料进行验证分析,发现故障品存在以下异常导致功能失效,传感器实物如图2 所示。①将故障品与正常品的IC 进行对调测试功能,发现故障品与正常品结论不变,说明IC 功能正常,所以锁定垫高板为传感器异常原因之一。②观察垫高板底部焊盘,发现异常脚底部焊盘不上锡,对比正常脚锡量饱满,如图3 所示。在放大镜下观察异常物料焊盘,发现有氧化、黑色油墨上焊盘现象,底部油墨偏多,局部堆高,导致物料脚与锡膏有高度差,焊接时无法与锡膏有效接触,上锡异常导致功能失效,如图4 所示。③用万用表测量垫高板两端导通情况,发现故障品上下焊盘存在开路情况而正常品导通,如图5 所示。将故障传感器垫高板做金相实验,发现传感器下面垫高板存在过孔不通,沉铜断开,导致上下焊盘开路,使传感器故障,如图6 所示。用砂纸磨开过孔位置有发现黑色物质,如图7 所示。分析为PCB 在钻孔过程钻头高速旋转后,钻头发热烧黑板材后残留的粉尘,后道清洗工序没有处理干净所致。
2.2 厂家生产工艺分析
经过对厂家生产工艺排查,发现生产过程中存在如下诸多隐患点。
1)垫高板钻孔完成后沉铜(过孔在传感器焊盘上),过孔孔壁与焊盘交接处会形成电镀铜与焊接基材覆铜焊接带,然后再做阻焊,阻焊完成再做油墨填塞过孔,即在焊盘上过孔位置处灌塞油墨,存在油墨灌塞偏多导致上焊盘、过孔位置高于焊盘高度,造成传感器接触不良;
2)PCB 在自动送料轨道夹持中固定不好或PCB 工艺边有异物造成夹持位置不平整,锡膏在印刷时超出焊盘外,形成不规律锡珠导致虚焊;
3)对PCB 过孔时钻头高速旋转发热易烧黑板材,但后续清洁力度不够,导致异物残留,出现沉铜断层现象。
3 传感器失效整改措施
3.1 整改方案
通过长期生产数据分析,该厂家不同批次的物料存在不同类型的问题,异常问题不断出现,说明厂家没从根本上解决。经过对厂家的生产过程隐患点进行排查,加以实验验证,从工艺流程、器件结构、检验工序三个方面优化并制定有效的解决方案。
1)工艺流程:从钢网厚度、锡膏量等方面优化工艺参数,提高精度,将焊盘上过孔孔径由0.35 mm 扩至0.45 mm,由原过孔塞油墨改为填塞树脂工艺,版面看不到过孔,版面平整,传感器与垫高板能良好导通;
2)检验工序:对自动送料轨道及PCB 工艺边全面检查,用20 倍镜45°斜角显微镜对上锡量进行全检,并增加测试治具限位装置,避免虚焊/ 假焊产品因测试压力过大而造成误判导致不良品流出;
3)器件结构:增加PCB镀铜层厚度可减少断层现象,在清洗工序增加超声波和高压冲洗工序,防止粉尘残留。
3.2 整改效果评估
对整改后传感器的性能结构、产品可靠性进行全面评估,检查能否达到预期整改水平。
1)结构分析:将整改前后的传感器放入X-Ray 进行观察,整改后的垫高板沉铜均匀,无过孔不通、断层现象,对比如图8 所示。焊盘过孔由原先的油墨填塞工艺改为树脂填塞工艺,更改后的焊盘版面完整,上锡正常,如图9 所示。根据公司《传感器检验规范》文件,要求PCB 垫高板过孔沉铜厚度平均值不小于20 μm,最小值不小于18 μm,孔角及孔壁铜层不均出现破损、缺损现象。对整改后的垫高板进行金相切片,孔壁厚度符合标准,沉铜均匀无异常,如图10、图11 所示。
2) 实验分析: 针对传感器更改了多项生产工艺,安排实验验证其可靠性。对500 pcs 整改前与整改后的传感器过孔增加点环氧胶后回流焊高温验证,在-10±2 ℃、60±2 ℃环境下各保持30 min,循环20 次,实验结果如表1。
将传感器组装成整机进行连续工作老化试验48 h,分别在老化12 h、24 h、48 h 试验后进行功能测试,实验结果如表2。
对整改前后的样品装100 台整机进行50 ℃高温烘烤6 h 之后,进行随机振动30 min,测试传感器功能,实验结果如表3。
可以看出,整改前传感器在不同实验环境下均存在失效现象,测试不可控,无法保证生产稳定性,而整改后传感器功能均无异常,产品可靠性强,整改效果明显。
4 传感器失效整改总结
对整改后的传感器进行全面评估,整改后性能参数、结构要求符合预期,从实验结果来看,整改后传感器可靠性强,整改效果明显。厂家整改之后,根据生产过程数据显示无沉铜不良异常,整改效果明显。本次通过传感器物料在使用过程中的异常反馈,对实际出现的多种问题进行分析整改,从器件结构、制造工艺、检验工序进行优化改进,并加以实验论证,从根本上有效改善了产品质量和可靠性,提高了生产效率。
参考文献:
[1] 裴春梅,杨秀清,王贵明.传感器在智能手机中的应用[J].湖南农业大学学报:自然科学版,2009(10X):108-109.
[2] 孙晶.传感器的原理与应用研究[J].科技咨询,2011(21):4.
[3] 戴俊夫,严明.电子元器件失效分析技术及方法[J].微机处理,2015(4):1.
(本文来源于《电子产品世界》杂志2021年4月期)
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