DDR测试技术介绍与工具分析
前文提到过，DDR信号不同于其他信号，其数据信号是双向的，读信号和写信号同时出现在信号线上。人们很难判断当前捕获到的数据是读信号还是写数据，这就给测试效率会很低，也比较容易出错。有了泰克公司的DDR自动测试软件选项如DDRA和DPOJET，就可使上述信号采集和分析问题迎刃而解，而且可以加速验证过程。本文引用地址：http://www.amcfsurvey.com/article/193939.htm
DDRA的功能特性包括但不限于：
1.新的自动配置向导，引导用户简便地完成设置和测试配置;
2.可识别和分析整个采集中的所有读/写突发;
3.为读和写绘制DQS和DQ眼图;
4.使用Pass/Fail极限执行JEDEC一致性测试;
5.使用片选判定多排测量;
6.简便地在一致性测试工具和分析/调试工具之间切换;
7.使用Pass/Fail信息、统计测量结果和测试设置信息，自动生成合并报告。
DDRA不是一种独立式工具，可直接与泰克强大的抖动、眼图和定时分析工具DPOJE连接，完成更多测量项目：
1.周期/频率、占空比、幅度、上升/下降时间测量;
2.高级抖动、眼图测量和Pass/Fail测试;
3.多个显示和绘图选项;
4.报告生成器等。
对于DDR的数字调试和验证，泰克的TLA7000系列逻辑分析仪+Nexus分析软件和NEXVu插卡式DIMM夹具提供了世界领先的DDR2/3存储器数据采集、分析和协议检验及调试解决方案。
图4：泰克最新的解决方案加快和改善了DDR2/3的数字验证和调试步骤。
泰克提供的NEXVu插卡式DIMM夹具探测解决方案layout符合JEDEC规范，可探测存储器IC信号，逻辑分析仪连接位置超出了普通DIMM高度，DIMM内部带有隔离电阻，降低探头负载效应，可实现最大的信号完整性堪称业界最佳的IC颗粒数字信号测量方法。
泰克提供的最新DDR3逻辑分析仪模块TLA7BBx是唯一可以捕获所有DDR3速度的逻辑分析仪，提供了足够高的定时分辨率，支持全面调试。同时提供了足够灵活的触发状态机，只触发相关事件。其通道数量可以扩充，且足够高，可以捕获所有要求的信号。
搭载的Nexus存储器支持套件有效提高了数据分析性能，检验和调试存储器系统操作(包括数据有效窗口、读/写数据操作、DDR命令和模式寄存器初始化)，可迅速简便地识别协议违规。
将上述设备、工具和软件再配上DPO/DSA/MSO70000B高性能示波器，泰克提供了一个全面了解系统特点的平台验证系统(如图5)。这是业界唯一能够捕获和分析所有DDR3速度的解决方案，在所有通道上一直提供了高达20ps的定时分辨率，支持选择性时钟输入，只存储实用数据，并且数字/模拟相关联，可查看整个系统情况。
图5：泰克的DDR平台验证系统可全面了解系统特点。
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