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Si87xx的CMTI性能测量

作者:时间:2013-05-17来源:网络收藏

licon Labs数字隔离器(光电耦合器替代品)与标准光电耦合器之间关于共模瞬变抑制()鲁棒性的详细对比。该视频中展示了如何使用被认可的经过校准的商业测试仪测量数字隔离器的瞬变抑制特性,因此你能确切的了解到我们如何测量我们产品的性能。CMTI是一种在快速共模瞬变事件过程中隔离器维护数据完整性的能力。多种情况可能引起共模瞬变,例如IGBT驱动电路、快速的高电压或高电流开关负载、电机驱动和浮动电源。本地在隔离器或电路板上的寄生通路能够跨越隔离栅耦合,引起数据错误,危及系统完整性。licon Labs Si系列产品产生的寄生电容与当前最先进的光电耦合器相比要低2-3倍。这种降低的耦合带来更高的CMTI性能,从而提高了系统可靠性和性能;这在高可靠性应用(例如电力传输和通信系统)中尤其重要。

本文引用地址:http://www.amcfsurvey.com/article/192788.htm

详情请看视频,地址为:http://bbs.21ic.com/icview-550364-1-1.html

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关键词: CMTI Si 87 xx

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