NI参加2013年汽车测试及质量监控博览会

　　美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)于2013年9月10日至12日参加在上海光大会展中心举办的2013年汽车测试及质量监控博览会。在此次汽车测试与质量监控博览会上面，NI联合多家业内资深的合作伙伴集中展示了在汽车领域多项前端应用和解决方案。

　　NI公司的产品几乎被所有的汽车OEM与一级供应商所采用。因为具有领先的I/O、灵活的硬件、强大高效的LabVIEW平台，用户可以创建适合多种应用的解决方案。目前，NI的产品涉及了快速控制原型、汽车终端测试、TEST Cell的测量与控制、硬件在环、车载测试与记录等几大领域。在此次博览会上NI带来了下列几项产品的展示:

　　· 新能源高仿电机的μ秒级仿真
　　· 汽车电子综合功能测试系统
　　· 高可靠性数据采集与分析管理
　　· ECU 硬件在环仿真(HIL)与快速原型设计 (RCP)
　　· 噪音、振动与舒适度(NVH)
　　· 汽车总线网络监控与验证
　　· 引擎控制设计与燃烧分析系统
　　· 高效的汽车行业测控设计软件工具链
　　· NI 测量、采集与控制硬件平台

　　与此同时，NI携手几家业界资深合作伙伴(北京恒润科技、苏州凌创电子、上海聚星仪器和上海其高电子)分别就ECU硬件在环、电控单元自动化测试、车载数据采集、存在与管理和汽车NVH & 模态等等提供了完整的解决方案。展会现场多家合作伙伴也提供了他们对于整车厂商和一级供应商提供的成熟解决方案。

　　在展会期间，NI 行业市场部经理付文武以“NI 开放平台助力汽车行业测控应用的发展”为题作了主题报告，介绍了 NI 及业内合作伙伴在汽车电子自动测试、硬件在环与快速原型设计、新能源汽车及关键部件测试、车载数据采集等应用领域的最新进展。

　　相信通过此次博览会，客户一定可以就NI在汽车电子测试领域的理念和产品有一个较全面的了解。