测试延迟自动生成器
摘要:在电压调整测试中,测试设备提供的负载电流需经一定的时间延迟才能达到预定值。文章介绍了一套开发于ASL-1000测试平台、可自动生成测试所需延时间的电路,使测试既准确又经济,因此可推而广之。
关键词:负载电流 延迟时间 ASL-1000 测试
1 引言
在电压调整器负载特性的测试中,测试设备一般采用电容组充、放电,以输出具有一定脉宽的大电流,并将其提供给“特测器件”(DUT,Device Under Test)的输出端作为负载电流。由于电容效应,该电流无法在t=0时刻达到器件手册中的规定值,因而在电流源开启后,必须经一段延迟才能进行输出采样。延迟时间的取值对测试影响较大,过小则负载电流尚未达规定值,测试无效;过大将影响测试速度,造成经济损失。
2 电路设计
ASL-1000是美国Credence公司研制的IC测试设备,已在业界普遍应用。在其电压调整器的常规测试电路中,接入两只内部继电器并外接一只1Ω/5W的电阻,同时辅助以相应的测试软件,从而构成了一套延迟时间自动生成电路,如图1所示。
3 设计实例
图1中,DVI-9-CH0提供DUT输入电压,PV3-2提供负载电流(图中略)。DVI-9-CH1与DVI-11-CH1分别采样测试。以集成稳压器CW7812为例,合上MUX-1-1和MUX-2-1,当DUT负载电流为0.5A时,由于电阻压降,两测试端采样到的电压应相差0.5V,表1是经不同延迟时间后获得的测量值。
由表1数据可得负载电流与时间的关系示意图,如图2所示。显然,延迟时间应稍大于T1并小于T2,才能使测试既准确又经济,且不同芯片负载特性的差异会使T1、T2也随之改变。鉴于此,笔者设计了一套延迟时间自动生成方案:合上继电器,两测试端同时采样。设初始延迟时间为10μs,以100μs为步进,循环增加,直到两测试端同次测值压差不小于0.5V且同一端前后两次测值之差不大于1mV,方可认定此时负载电流已达到0.5A。为避免进入死循环,程序设置了时间溢出(time_over),一旦延迟时间超出,程序退出并报错,此时需配合其它参数的测试,检查DUT是否已失效。正常测试时,要断开MUX-2-1。
表1 不同时延后的测值
时延(s) | 10 | 50 | 100 | 300 | 500 | 700 |
DVI-9-CH1测值(V) | 12.0832 | 12.0821 | 12.0832 | 12.0815 | 12.0808 | 12.0802 |
DVI-11-CH1测值(V) | 12.0832 | 12.0831 | 12.081 | 12.0612 | 12.0435 | 12.0069 |
时延(s) | 750 | 770 | 790 | 850 | 950 | 1200 |
DVI-9-CH1测值(V) | 12.0743 | 12.0615 | 12.0559 | 12.0436 | 12.0506 | 12.0553 |
DVI-9-CH1测值(V) | 11.6772 | 11.5119 | 11.3962 | 11.2635 | 11.3012 | 11.5266 |
时延(s) | 1300 | 1400 | 1500 | 1600 | 1700 | 30000 |
DVI-9-CH1测值(V) | 12.0568 | 12.0572 | 12.0577 | 12.0578 | 12.0578 | 12.0832 |
DVI-9-CH1测值(V) | 11.5485 | 11.5495 | 11.5497 | 11.5498 | 11.5499 | 12.0832 |
以下为测试源程序Vout_Highload.cpp:
void Vout_Highload(test_function func)
{ //The two lines below must be the first two in the function.
Vout_Highload_params *ours;
ours=(Vout_Highload params *)func.params;
floatVout,Vout1,Vout2,Vout3,delta1,delta2,delta3;
float time_delay=1,time_over=1000;
//initialise delay time=10μs,time_over=10ms board_hardware_init();
fixed_connect();
//initialise the DVI_9_CH1 and the DVI_1_CH1
dvi_9 ->set_meas_mode (DVI_CHANNEL_1,DVI_MEASURE_VOLTAGE);
dvi_9->est_voltage_range(DVI_CHANNEL_1,POSITIVE_V_OUT,VOLT_50_RANGE,
FAST_VOLTAGE_MODE);
div_11 ->set_meas_mode (DVI_CHANNEL_1,DVI_MEASURE_VOLTAGE);
dvi_11->set_voltage_range(DVI_CHANNEL_1,POSITIVE_V_OUT,VOLT_50_RANGE,FAST_VOLTAGE_MODE);
//connect the resistor to the output of the DUT
mux_20->close_relay(MUX_1_1);
mux_20->close_relay(MUX_2_1);
//set initial current
pv3_2->set_voltage(0.0,PV3_RNG_100V);
//set initial voltage
wait.delay 10_μs(10);
pv3_connect(); //connect PV3 to circuit
do
{//Set PV3 voltage to 20V so that PV3 step up current to max value
pv3_2->set_voltage(20,PV3_RNG_100V);
pv3_2->set_current(0.5,RANGE_10_A);
//set the current to 0.5A
pv3_2->drive-on();
wait.delay_10_μs(time_delay);
Vout=dvi_9->measure (); //Measure output without the resistor
Vout1=dvi_11->measure (); //Measure output with the resistor
pv3_2->drive_off();
time_delay=time_delay+10;
delta1=Vout-Vout1;
delta2=Vout-Vout2;
delta2=Vout1-Vout3;
Vout2=Vout;
Vout3=Vout1;
if(time_delay>time_over)
{Vout=999.999;
break;
}
} while((fabs(delta1)0.5)||(fabs(delta2)>0.001)||(fabs(delta3)>0.001));
board_hardware_init();
}
4 结束语
经以上程序,在测得CW7812实际输出电压Vout 的同时,可自动获得测试所需的延迟时间(timedelay),且在后续其它参数的测试中,延迟时间可延用此数值。如此,既满足了测试要求,又最大限度的节省了测试时间。本方法适用于其它所有电压调整器的测试,并可推广到其它测试设备中。
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