FPGA时序收敛分析

您编写的代码是不是虽然在仿真器中表现正常，但是在现场却断断续续出错?要不然就是有可能在您使用更高版本的工具链进行编译时，它开始出错。您检查自己的测试平台，并确认测试已经做到 100% 的完全覆盖，而且所有测试均未出现任何差错，但是问题仍然顽疾难除。

　　虽然设计人员极其重视编码和仿真，但是他们对芯片在 FGPA 中的内部操作却知之甚少，这是情有可原的。因此，不正确的逻辑综合和时序问题(而非逻辑错误)成为大多数逻辑故障的根源。

　　但是，只要设计人员措施得当，就能轻松编写出能够创建可预测、可靠逻辑的 FPGA 代码。

　　在 FPGA 设计过程中，需要在编译阶段进行逻辑综合与相关时序收敛。而包括 I/O 单元结构、异步逻辑和时序约束等众多方面，都会对编译进程产生巨大影响，致使其每一轮都会在工具链中产生不同的结果。为了更好、更快地完成时序收敛，我们来进一步探讨如何消除这些差异。

　　I/O 单元结构

　　所有 FPGA 都具有可实现高度定制的 I/O 引脚。定制会影响到时序、驱动强度、终端以及许多其它方面。如果您未明确定义 I/O 单元结构，则您的工具链往往会采用您预期或者不希望采用的默认结构。如下 VHDL 代码的目的是采用“sda: inout std_logic;”声明创建一个称为 sda 的双向 I/O 缓冲器。

　　图1 – FPGA 编辑器视图显示了部分双向I/O散布在I/O缓冲器之外。

　　当综合工具发现这组代码时，其中缺乏如何实施双向缓冲器的明确指示。因此，工具会做出最合理的猜测。

　　实现上述任务的一种方法是，在 FPGA 的 I/O 环上采用双向缓冲器(事实上，这是一种理想的实施方式)。另一种选择是采用三态输出缓冲器和输入缓冲器，二者都在查询表 (LUT) 逻辑中实施。最后一种可行方法是，在 I/O 环上采用三态输出缓冲器，同时在 LUT 中采用输入缓冲器，这是大多数综合器选用的方法。这三种方法都可以生成有效逻辑，但是后两种实施方式会在I/O 引脚与 LUT 之间传输信号时产生更长的路由延迟。此外，它们还需要附加的时序约束，以确保时序收敛。FPGA 编辑器清晰表明：在图 1 中，我们的双向 I/O 有一部分散布在 I/O 缓冲器之外。

　　教训是切记不要让综合工具猜测如何实施代码的关键部分。即使综合后的逻辑碰巧达到您的预期，在综合工具进入新版本时情况也有可能发生改变。应当明确定义您的 I/O 逻辑和所有关键逻辑。以下 VHDL 代码显示了如何采用 Xilinx® IOBUF 原语对 I/O 缓冲器进行隐含定义。另外需要注意的是，采用相似方式明确定义缓冲器的所有电气特性。

　　在图 2 中，FPGA 编辑器明确显示，我们已完全在 I/O 缓冲器内部实施了双向 I/O。