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NI发布全新SC Express PXI传感器测量RTD模块

作者:时间:2012-05-22来源:电子产品世界收藏

  新闻要点

本文引用地址:http://www.amcfsurvey.com/article/132687.htm
  • 电阻温度探测器(RTD)模块进一步扩展了性能,能够提供更高的温度精度。
  • 工程师可使用 产品家族中的 PXIe-4357 RTD模块,PXI以及LabVIEW实时模块来创建稳定的传感器系统,其通道数可从十扩展至数千
  • 将数据采集与信号调理集成在一个PXI模块中,从而实现高性能、稳定的传感器,以及速度和精度的优化

  美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 )近日发布传感器测量NI PXIe-4357 RTD模块,扩大了面向PXI Express模块的产品家族。 该高性能模块新增Pt100 RTD传感器,优化了温度测量功能,可实现多种热监测应用。 NI PXIe-4357模块将传感器专用的信号调理与24位ADC集成, 以100 S / s的采样率,对全部20条通道进行采样,精度最高可达0.09摄氏度。 为了扩展系统的通道数,工程师还可集成更多的NI PXIe-4357模块,或使用其它SC Express模块在同一系统中添加辅助传感器输入,包括热电偶、应变计、加速度计和FBG光学传感器。  

 

  感言

  “我们设计了SC Express,在单个模块上集成信号调理和AD转换,从而提高测量精度和稳定性。”; “SC Express基于PXI Express平台,工程师因此可以轻松地扩展通道数,与其它测量或控制模块同步,满足他们测试应用的具体需求。”  ——Kevin Schultz,美国国家仪器研发副总裁

  产品介绍

  NI PXIe-4357 RTD模块

  • 提供20条通道,能够集成24位delta-sigma模数转换器与抗混叠和低通滤波器
  • 以高达100 S/s/ch的采样率和0.09摄氏度的精度采集数据
  • 业界最为可靠的测量,且完全支持LabVIEW实时模块
  • 在同一PXI机箱、跨机箱或跨设备,与SC Express产品家族中的其他模块同步

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关键词: NI 测量 SC Express

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