力科于2012DesignCon上展示其信号完整性产品及技术

　　美国力科公司---2012年的DesignCon博览会的钻石赞助商，将手册展示出其最新的创新产品和新技术，演示在速度、性能和分析能力方面持续保持领先地位的示波器和信号完整性测试解决方案。此外，力科的专家将展示7个技术专题，并参加两个行业小组，专注于以创新的方法来解决一些当今工程师们所面临的最重要的测试测量挑战。力科的工程师们也将亲临力科101展位和您一起进行技术交流和探讨。

　　产品演示包括：(1)LabMaster9Zi-A：多达20通道，120GS/s采样率，45GHz带宽的模块化示波器以及串扰分析和虚拟探测分析软件组展示了力科新的多通道串行数据分析平台;(2)WaveMaster8Zi-A：一流的45GHz,120GS/s的示波器;(3)LabMaster 10Zi：见证了世界上最高带宽——达到60GHz——以及最高的通道密度的示波器;(4)SPARQ：12端口，30GHz的信号完整性网络分析仪;(5)HRO66Zi：业界唯一的12位ADC高分辨率的示波器;(6)Kibra：业界第一的DDR4总线和时序分析仪;(7)PeRT3：测试USB3,SATA,PCI Express®和其它协议分析的，最全面的,唯一具有协议使能的端到端接收机测试仪器。

　　创新产品演示

　　在过去三年的DesignCon上，力科分别发布了突破记录的高带宽示波器。今年的会议参与者将有机会再次和力科工程师讨论有关最新突破性带宽的技术信息。LabMaster 10Zi将业界最先进的8HP SiGe 36GHz芯片组、DBI专利技术、ChannelSync时钟同步架构结合在一起，提供了60GHz实时带宽，几乎是竞争对手带宽的两倍。LabMaster 10Zi在“带宽密度”(能够工作在同步状态的最高带宽通道的数量)方面也是业界领先------20个36GHz通道或10个60GHz通道，是竞争对手的10倍。

　　WaveMaster 8Zi-A示波器，在过去两年都获得UBM电子发布的测试和测量类的DesignVision大奖。这款示波器将以PCI Express信号为例来演示端到端的串行数据分析。PCI Express 3.0测试方案还包括带协议使能的接收和发送容限测试仪PeRT3 Phoenix，以及协议分析仪Summit T3-16 和Summit T3-8。

　　力科提供了业界唯一的12bit高分辨率示波器HRO，带宽可到600MHz。作为世界上噪声最低的示波器，HRO结合12bit ADC和低噪声前端技术，提供了无与伦比的信号保真度。通过演示清晰干净的波形、快速的波形更新和反应速度，HRO和传统8bit示波器的震撼性对比将展示给与会者。

　　力科也发布了新的Kibra 480平台，提供专利的探测技术，用于DDR4信号监控，勿需繁琐的信号校准和设置。

　　信号完整性网络分析仪SPARQ能够快速测量S参数，价格只是矢量网络分析仪的一小部分。 通过最新发布的8端口和12端口SPARQ，信号完整性工程师能够对多通道差分线路进行快速的串扰分析。

　　一种新的多通道串行数据分析平台也将在会上展示。这套产品能够对多达4个通道进行同时分析和比较、快速测量眼图和抖动，并无缝集成了即将发布的虚拟探头和串扰分析软件包。虚拟探头软件能够通过S参数去嵌夹具。创新性的串扰分析软件包能够帮助用户深入探测串行数据传输过程中的串扰。测量串扰引起的垂直噪声，得到干扰通道引起的总噪声、确定性噪声和随机噪声，并能对串扰来源做深入分析和调试。

　　专家技术演讲

　　技术文章演讲中包含的主题有：(1) 高速设计中的去嵌技术;(2) 12Gbps 高损耗和通道间串扰的交互测试; (3) 模拟仿真高速串行链路性能;(4) 离散频率S参数和连续频率响应;(5) S参数的强制互换性，无源性和因果性算法。由Eric Bogatin演讲的关于信号完整性的两个主题包括：(6) 回波损耗的纹波研究 (7) 在工业论坛上解答当今最有挑战的信号完整性方面的问题。最后，力科将参加两场非常受人关注的工业座谈会。在周三大会闭幕式上将探讨: (8) “答疑期间的演讲主题：在测试测量方面满足设计者需求”，内容涉及对未来测试测量发展的展望，与设计工程师进行互动和交流，以及怎样更多的在未来测试技术中更多关注设计者的需求。

　　专题讨论小组参加人员：

　　Dave Graef, 力科公司CTO，副总裁;

　　Kevin Ilcisin，泰克 CTO;

　　Greg Peters，安捷伦GM，测试分部副总裁;

　　Eric Starkloff， 美国国家仪器系统平台副总裁。

　　来自力科，泰克，安捷伦，Teraspeed Consulting，Altera，和LSI的专家团队。

　　专题小组的演讲主题:(9) “眼图闭合时：如何消除令人困惑的测试复杂性”